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麻塞諸塞州,沃爾珊 -- (美國商業資訊) -- 奧林巴斯設計新款L系列Vanta掌上型X射線螢光(XRF)分析儀的目的是滿足使用者的如下要求:性價比較高的裝有矽條帶(Si-PIN)X射線探測器的Vanta分析儀具有堅固耐用、性能強大、分析迅速和使用方便的特性。L系列Vanta分析儀綜合了M系列和C系列Vanta分析儀的優勢特性,在材料可靠性鑑別(PMI)、品質保證(QA)、金屬製造、金......