JEOL：推出新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810
東京--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長：Izumi Oi)宣佈將於2024年7月28日發佈新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。 場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)廣泛應用於科研機構、大學和工業等科技領域。人們越來越需要一種從觀察到分析都可以輕......
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